项目名称 | 高纯材料分析 | |
检测目的 | 鉴定高纯度材料的成分含量 | |
检测范围 | 各种金属,高纯材料 |
项目简介 |
高纯材料的分析通常通过辉光放电来进行检测,非常适合于导体(和/或)非导体复合镀层的分析。灵敏性非常高,可分析70多种元素。
在金属分析领域中,辉光放电分析是浓度分析和表面分析最理想的手段。表面处理工艺过程,如表面渗碳硬化或渗碳热处理等,都可以通过分析被处理材料的表面和近表层区域实现质量控制。采用浓度分布分析功能可以精确地测量涂(镀)层厚度及化学成分。
检测材料
一、贵金属
金(3N,4N,4N5)、银(3N,3N5,4N)、铂(3N,3N5,4N)、钯(3N,3N5,4N)、铑(3N,3N5,4N)铱3N,3N5,4N)、钌(3N,3N5)
二、有色金属
钨条(3N,4N)、钽粉、铌条、铟(3N,4N)、钼条、镓(3N,4N,5N,6N)
三、其他高纯物质
石墨、碳、硅、碳化硅、陶瓷、锗、三氧化二铝、高纯二氧化锗锗(5N,6N)
高纯四氯化锗(5N,6N)
检测方法 |
除去标准中指定方法外,我们还可用GDMS来对高纯物质进行成分分析
GDMS-辉光放电质谱仪
检测面积:40-200平方毫米(消耗50微米厚度的样品)
检测极限:ppb 级别
检测范围:73种元素
粉末制样:高纯铟
实验室 |
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标签: 高纯材料杂质分析 高纯铝成分分析 锡条成分分析 二氧化硅成分分析 锌块杂质元素分析